일반뉴스 지멘스, IC 설계 검증 솔루션 ‘테센트 인시스템 테스트’ 출시

지멘스 EDA 사업부는 차세대 집적 회로(IC, Integrated Circuit)의 설계단계에서 칩의 공정상 결함이 있는지 체크하는 테스트 용이화 설계(DFT, Design-for-Test) 솔루션인 ‘테센트 인시스템 테스트’(Tessent In-System Test) 소프트웨어를 출시했다. 테센트 인시스템 테스트는 지멘스의 테센트 스트리밍 스캔 네트워크 소프트웨어와 함께 작동하도록 설계된 업계 최초의 인시스템 테스트 컨트롤러다. 이러한 호환성을 통해 고객은 제품 수명주기 동안 시스템 내에서 임베디드 결정론적 테스트 패턴을 적용할 수 있으며 이를 통해 IC와 이를 구동하는 애플리케이션의 안정성과 보안, 완전한 기능을 유지할 수 있다. 지멘스 디지털 산업 소프트웨어 디지털 설계 생성 플랫폼의 담당 수석 부사장 겸 총괄 매니저 앤커 굽타는 “테센트 인시스템 테스트는 고객이 실리콘 수명주기 관리 목표를 달성하는 데 있어 중요한 진전”이라며 “노후화 및 환경적 요인 문제를 해결하는 스마트 솔루션을 제공해 궁극적으로 고객에게 향상된 성능, 보안 및 생산성을 제공한다”고 말했다. 지멘스의 테센트 미션모드와 테센트 스트리밍 스캔 네트워크 소프트웨어의 성공을 기반으로,

• 이창현 기자
• 2024-12-12 11:17